首頁
|
登錄
|
現在註冊
產品新知
|
新聞和趨勢
|
技術文庫
|
應用實例
|
電子工程人物
|
電子工程辭典
|
技術專刊
|
研究報告
|
論壇
|
本期雜誌
EDA/IC設計
|
製程/製造
|
測試/封裝
|
感測技術
|
放大/調節/轉換
|
RF/無線
|
數位訊號處理
|
控制技術
|
網路設計
介面設計
|
緩衝/儲存技術
|
功率設計
|
EMI/EMC設計
|
光電及顯示技術
|
嵌入式設計
|
可程式邏輯
|
安全設計
|
設計測試
分類:
關鍵字詞:
高級搜索
|
說明
測試與測量
首頁
/
論壇
/
自由討論
/
測試與測量
任何設計都需要經過最後的測試與量測過程來予以驗證,這是確保設計成功的保證與關鍵。然而,新技術的不斷推陳出新也對測試工具帶來了新的挑戰。工程師應如何進行更準確、更有效率的設計,以確保產品設計的可靠性?歡迎說出您的獨到見解,與大家一起分享!
發表新主題
收藏
列印
問題:
tester index time
發表時間: 2008/5/9 下午 1:13
提問者:
蚊子1
等級:
鐘點工讀生
積分:
105 分
發送消息
查看用戶的所有發言
各位大大:
請問有人知道一般IC測試的prober,如TSK....的index time是多少?0.5s合理嗎?
鮮花
(
0
)
臭雞蛋
(
0
)
回覆主題
引用本留言
關注
推薦
發表新主題
--- 現有
0
個回覆,共
1
頁,目前第
1
頁 ---
積分排行榜
趕快查看電子工程專輯論壇的積分排行榜!
論壇幫助
《電子工程專輯》雜誌免費申請
•
這是一本專為電子產業設計工程師提供的刊物,只要完整填寫申請表並成功提交,便有機會免費獲得。
我要申請
上週熱門新聞
•
WiMax vs. LTE 誰將是4G明星?
•
「fab-lite」玩真的? 傳AMD打算分割其製造部門
•
影音不稀奇 未來手機能傳香氣
•
分析師預測08年全球感測器市場規模可達32億美元
•
為企業量身訂作的AMD Business Class方案
返回論壇首頁
eMedia Asia
EE Times - Asia
|
EE Times - India
|
|
環球資源
環球資源企業網
|
環球資源內貿網
|
世界經理人
|
Electronic Components
|
Computer Products
|
Trade Show Center
|
China Sourcing Fairs
CMP
EE Times
|
ESM Online
RSS 新聞聚合器
|
意見反饋
|
网站導航
|
幫助
|
關于我們
|
隱私政策
|
聯系我們
|
使用條款
|
安全承諾
Copyright © 2008 eMedia Asia Ltd. 本网站所有內容均受版權保護。
未經版權所有人明确的書面許可,不得以任何方式或媒体翻印或轉載本网站的部分或全部內容。