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測試與測量
任何設計都需要經過最後的測試與量測過程來予以驗證,這是確保設計成功的保證與關鍵。然而,新技術的不斷推陳出新也對測試工具帶來了新的挑戰。工程師應如何進行更準確、更有效率的設計,以確保產品設計的可靠性?歡迎說出您的獨到見解,與大家一起分享!
 


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問題: 晶圓封裝良率問題?
發表時間: 2008/4/23 下午 3:44
 


提問者: squallrain
等級: 鐘點工讀生
積分: 110 分

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想請問一下各位先進
在目前的LED封裝測試中
到了最後的切割晶圓部份時
想請問良率目前還有往上提升的空間嗎??
也就是一塊晶圓可供切割來當LED使用的良率
假設可切割1000片,那是否這1000片皆是品質可用的呢?
謝謝。

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第 1 樓      晶圓封裝良率問題?
發表時間: 2008/4/25 下午 4:41
 


提問者: bluecrescent
等級: 實習生
積分: 303 分

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我自己的瞭解, 在切割時再提升良率的空間似乎不大了
這階段應該是避免一些物理性的破壞
另外, 我也不認為目前可達到100%的良率
或是現在已經達到了 ?

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第 2 樓      回覆主題:晶圓封裝良率問題?
發表時間: 2008/4/30 上午 11:05
 


提問者: Julian82094333
等級: 鐘點工讀生
積分: 122 分

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一般磊晶有效使用率87% 主波長65~80%
封裝良率: 單波 93%以上. 多複波 50~75% (分色溫問題)
故成品總良率=0.87*0.8*0.75=0.522=52.2%但非主要波長的商品亦有市場及應用只是價格稍微差一點約30%~50%價格.

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