評論專區 首頁 / 論壇 / 自由討論 / 評論專區
這是一個媒體與讀者互動交流的時代。在'評論專區"中，歡迎讀者針對網站中的文章發表評論與見解，結合大家的參與討論，讓趨勢越辯越明，讓訊息的傳播更為有效。
實現高速串列I/O效率的嵌入式測試
上網時間:2008年06月20日

隨著半導體技術在複雜度和功能以及速度等方面的不斷發展，嵌入式系統中對串列I/O的採用正日益普及，嵌入式...[ 閱讀全文 ]


收藏 列印
問題： 實現高速串列I/O效率的嵌入式測試 發表時間： 2008/6/20 下午 11:03
 

提問者： aidiot

等級： 鐘點工讀生

積分： 107 分

發送消息

查看用戶的所有發言

隨著半導體技術在複雜度和功能以及速度等方面的不斷發展，嵌入式系統中對串列I/O的採用正日益普及，嵌入式測試方案將為系統設計師分析系統提供真正的機會，不論是硬體還是軟體。儘管將高速串列匯流排整合在嵌入式系統中可以解決許多問題，但設計和確認過程與以往有很大不同。也將對如何成立設計團隊和採用什麼工具產生影響。
引用本留言 回覆主題 關注  推薦  鮮花 (
0
) 臭雞蛋 (
0
)
問題： 回覆主題：實現高速串列I/O效率的嵌入式測試 發表時間： 2008/6/20 下午 11:03
 

提問者： aidiot

等級： 鐘點工讀生

積分： 107 分

發送消息

查看用戶的所有發言

錯別字一堆....科技人的文字運用能力有待加強....
引用本留言 回覆主題
鮮花 (
0
) 臭雞蛋 (
0
)

維護專業、整潔的論壇環境需要您的參與，請及時舉報違規留言，如果舉報屬實，我們將給予相應的積分獎勵。
謝謝您的熱心參與！
返回評論專區 | 返回自由討論
本論壇僅陳述專家或個人觀點，並不代表電子工程專輯網站立場。
積分排行榜

趕快查看電子工程專輯的積分排行榜！

論壇幫助

《電子工程專輯》雜誌免費申請
• 這是一本專為電子產業設計工程師提供的刊物，只要完整填寫申請表並成功提交，便有機會免費獲得。
我要申請

上週熱門新聞(09/29~10/03)
• 漸入佳境　OLED照明市場前途亮
• 電子紙閱讀器市場萌芽　新產品比一比
• 編輯觀點：華爾街鬧「股災」　電子產業也受害
• NetBook魅力橫掃　有助台灣NB廠「轉大人」
• 行動上網新時代來臨　PC產業得尋求轉型
返回論壇首頁